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檢測固體樣本對含氫原子的氣體的吸附量的方法及系統(tǒng)

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN201410503967.1
  • IPC分類號：G01N24/08
  • 申請日期：
    2014-09-26
  • 申請人：
    清華大學
著錄項信息
專利名稱檢測固體樣本對含氫原子的氣體的吸附量的方法及系統(tǒng)
申請?zhí)?/td>CN201410503967.1申請日期2014-09-26
法律狀態(tài)授權申報國家中國
公開/公告日2014-12-24公開/公告號CN104237283A
優(yōu)先權暫無優(yōu)先權號暫無
主分類號G01N24/08IPC分類號G;0;1;N;2;4;/;0;8查看分類表>
申請人清華大學申請人地址
北京市海淀區(qū)-82信箱 變更 專利地址、主體等相關變化，請及時變更，防止失效
權利人清華大學當前權利人清華大學
發(fā)明人胥蕊娜;姜培學;薛華慶
代理機構北京清亦華知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙）代理人張大威
摘要
一種檢測固體樣本對含氫原子的氣體的吸附量的方法，包括下列步驟(1)使用核磁共振儀收集固體樣本的吸附核磁共振信號；以及(2)基于固體樣本的吸附核磁共振信號，確定固體樣本對含氫原子的氣體的吸附量。本發(fā)明的方法操作方便、系統(tǒng)簡單、精度高且成本低，不但可以測量固體樣本的對諸如甲烷的含氫原子的氣體的吸附量從而繪制吸附?解吸曲線，而且還能用于測量不同孔隙對吸附/解吸的貢獻從而分析固體樣本的孔隙特征。相應地，本發(fā)明還提供了一種檢測固體樣本對含氫原子的氣體的吸附量的系統(tǒng)、檢測固體的孔隙的方法以及繪制固體樣本對含氫原子的氣體的吸附?解吸曲線的方法。

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