加載中...
首頁專利查詢專利詳情

*來源于國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局?jǐn)?shù)據(jù)，僅供參考，實(shí)際以國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局展示為準(zhǔn)

一種四維自適應(yīng)絕緣件表面電荷測量裝置

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN201010034314.5
  • IPC分類號(hào)：G01R29/00
  • 申請日期：
    2010-01-15
  • 申請人：
    清華大學(xué)
著錄項(xiàng)信息
專利名稱一種四維自適應(yīng)絕緣件表面電荷測量裝置
申請?zhí)?/td>CN201010034314.5申請日期2010-01-15
法律狀態(tài)授權(quán)申報(bào)國家中國
公開/公告日2010-07-28公開/公告號(hào)CN101788613A
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號(hào)暫無
主分類號(hào)G01R29/00IPC分類號(hào)G;0;1;R;2;9;/;0;0查看分類表>
申請人清華大學(xué)申請人地址
北京市海淀區(qū)清華園1號(hào) 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時(shí)變更，防止失效
權(quán)利人清華大學(xué)當(dāng)前權(quán)利人清華大學(xué)
發(fā)明人王強(qiáng);張貴新;王蓓;徐曙光;吳寶暉
代理機(jī)構(gòu)北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙）代理人羅文群
摘要
本發(fā)明涉及一種四維自適應(yīng)絕緣件表面電荷測量裝置，屬于高電壓設(shè)備和電子技術(shù)領(lǐng)域。測量裝置包括測量探頭、探頭控制機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)盤、攝像頭、電源、控制器紅外測距儀等。本測量裝置通過紅外測距儀接收距離信號(hào)，通過多臺(tái)電機(jī)自動(dòng)調(diào)節(jié)探頭與被測表面之間的距離與角度，保持探頭與表面垂直并且距離恒定，實(shí)現(xiàn)對絕緣件表面電荷的測量。本測量裝置可以置于可承受氣壓的密封腔體內(nèi)，在高氣壓環(huán)境下對絕緣件表面電荷進(jìn)行測量，并實(shí)現(xiàn)探頭的兩種平動(dòng)和兩種轉(zhuǎn)動(dòng)，適用于各種形狀絕緣件的測量，且具有很高的空間分辨率。

我瀏覽過的專利

    專利服務(wù)由北京酷愛智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理公司提供