基礎(chǔ)信息
權(quán)利要求
說(shuō)明書
PDF全文
法律信息
引證文獻(xiàn)
著錄項(xiàng)信息
專利名稱 | 基于全局脊線的指紋識(shí)別方法 |
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN200410017825.0 | 申請(qǐng)日期 | 2004-04-18 |
法律狀態(tài) | 權(quán)利終止 | 申報(bào)國(guó)家 | 中國(guó) |
公開/公告日 | 2005-01-12 | 公開/公告號(hào) | CN1564186 |
優(yōu)先權(quán) | 暫無(wú) | 優(yōu)先權(quán)號(hào) | 暫無(wú) |
主分類號(hào) | G06K9/00 | IPC分類號(hào) | G;0;6;K;9;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;6;8查看分類表>
|
申請(qǐng)人 | 杭州中正生物認(rèn)證技術(shù)有限公司 | 申請(qǐng)人地址 | 浙江省杭州市文三路90號(hào)東部軟件園1號(hào)樓3樓
變更
專利地址、主體等相關(guān)變化,請(qǐng)及時(shí)變更,防止失效 |
權(quán)利人 | 杭州中正生物認(rèn)證技術(shù)有限公司 | 當(dāng)前權(quán)利人 | 杭州中正生物認(rèn)證技術(shù)有限公司 |
發(fā)明人 | 劉中秋 |
代理機(jī)構(gòu) | 杭州九洲專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 陳繼亮 |
摘要
本發(fā)明涉及一種基于全局脊線的指紋識(shí)別方法,在存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板中進(jìn)行基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索,基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)是參與比對(duì)的存儲(chǔ)指紋和待識(shí)別指紋進(jìn)行姿勢(shì)校準(zhǔn)的定位參考點(diǎn);在提取指紋細(xì)節(jié)點(diǎn)之后,引入細(xì)化了的全局指紋脊線形成指紋模板;然后考察細(xì)節(jié)點(diǎn)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)或周圍脊線分布的相似性,確定基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì);通過(guò)基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)對(duì)齊兩枚指紋,計(jì)算兩枚指紋脊線的匹配度,從而判定兩枚指紋是否匹配。本發(fā)明的有益效果是:由于運(yùn)用了全局脊線信息,使得采用本發(fā)明所述的方法不僅顯著提高了搜索效率和抗噪聲能力,而且還克服了基于細(xì)節(jié)點(diǎn)的算法難以正確識(shí)別相同細(xì)節(jié)點(diǎn)過(guò)少的兩枚指紋的問(wèn)題。
1、一種基于全局脊線的指紋識(shí)別方法,其特征在于:主要包含下列步驟:
1.在存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板中進(jìn)行基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索,基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)是參與比對(duì)的存儲(chǔ) 指紋和待識(shí)別指紋進(jìn)行姿勢(shì)校準(zhǔn)的定位參考點(diǎn);
2.進(jìn)行全局脊線匹配,即對(duì)存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板的脊線點(diǎn)進(jìn)行全局比對(duì),脊 線由脊線點(diǎn)構(gòu)成,在此基礎(chǔ)上判斷兩枚指紋是否匹配,具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程分四步如下:
2.1指紋模板姿勢(shì)校準(zhǔn):以進(jìn)入全局匹配的基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)為對(duì)齊點(diǎn),計(jì)算平移量和旋轉(zhuǎn)量, 然后將待識(shí)別模板T2對(duì)齊到存儲(chǔ)模板T1中去;
2.2統(tǒng)計(jì)重疊區(qū)域內(nèi)T2脊線點(diǎn)總數(shù)S1:將待識(shí)別模板T2對(duì)齊到存儲(chǔ)模板T1之后,T2和 T1形成一塊重疊區(qū)域,統(tǒng)計(jì)T2在重疊區(qū)域的脊線點(diǎn)個(gè)數(shù),記為S1;
2.3脊線點(diǎn)比對(duì):對(duì)重疊區(qū)域所有T2上的脊線點(diǎn)進(jìn)行考察,統(tǒng)計(jì)匹配點(diǎn)的個(gè)數(shù),記為S2;
2.4計(jì)算存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板的最終匹配分?jǐn)?shù),與判斷閾值T進(jìn)行比較,輸 出判斷結(jié)果;
其中,上述的基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索方法如下:
a)建立指紋模板中每一個(gè)細(xì)節(jié)點(diǎn)與其他細(xì)節(jié)點(diǎn)之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),兩個(gè)細(xì)節(jié)點(diǎn)P1和P2 之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)需要計(jì)算如下3個(gè)特征量:細(xì)節(jié)點(diǎn)之間的距離d,細(xì)節(jié)點(diǎn)方向與兩 細(xì)節(jié)點(diǎn)連線順時(shí)針?biāo)傻膴A角α和β;
b)用T1和T2分別代表存儲(chǔ)模板和待匹配模板,Pi為T1中的任一細(xì)節(jié)點(diǎn),Qi為T2中的 任一細(xì)節(jié)點(diǎn),按照如下步驟搜索基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì):
1)如果Pi和Qi類型相同,即同為端點(diǎn)或叉點(diǎn),且方向的偏差小于閾值,那么就分 別以Pi和Qi為參考點(diǎn),考察它們之間的相似度;Pj是T1中Pi之外的任一細(xì)節(jié) 點(diǎn),Qj是T2中Qi之外的任一細(xì)節(jié)點(diǎn),Pj和Pi之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)記為A,Qj和Qi 之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)記為B,如果A和B之間的3個(gè)特征量的偏差都小于相應(yīng)的閾 值,那么就認(rèn)為A和B是一對(duì)相同的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),按照這個(gè)方法計(jì)算出Pi和Qi 所有相同拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的個(gè)數(shù),該個(gè)數(shù)就是Pi和Qi之間的相似度;
2)按照1)中的方法,遍歷所有的細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì),把相似度不為0的點(diǎn)對(duì)保存到一個(gè)隊(duì) 列中。然后根據(jù)相似度的高低進(jìn)行降序排列;
3)如果隊(duì)列不為空,那么選取隊(duì)列中前若干對(duì)基準(zhǔn)點(diǎn),進(jìn)入全局匹配;如果隊(duì)列 為空,則進(jìn)入步驟c);
c)如果T1和T2中的細(xì)節(jié)點(diǎn)Pi、Qi類型相同,即同為端點(diǎn)或叉點(diǎn),且方向的偏差小于 閾值,那么就分別以Pi和Qi為中心,R為半徑,該范圍稱為參考范圍,考察它們之 間脊線分布的相似度:
1)將Qi向Pi對(duì)準(zhǔn),包括位置和方向,Qi參考范圍內(nèi)所有的脊線點(diǎn)隨同Qi一起變 換,統(tǒng)計(jì)參考范圍內(nèi)T1和T2相同脊線點(diǎn)的個(gè)數(shù),該個(gè)數(shù)就是Pi和Qi之間的相 似度;
2)遍歷所有的點(diǎn)對(duì),把相似度不為0的點(diǎn)對(duì)保存到一個(gè)隊(duì)列中,然后根據(jù)相似度 的高低進(jìn)行降序排列;
3)選取隊(duì)列中前若干對(duì)基準(zhǔn)點(diǎn),進(jìn)入全局匹配;
上述的脊線點(diǎn)比對(duì)具體方法為:
a)Pi為待識(shí)別模板T2任意脊線上任意一點(diǎn);
b)以pi為中心,m個(gè)象素點(diǎn)距離范圍作為搜索區(qū)域,在該區(qū)域內(nèi)搜索存儲(chǔ)模板T1的脊 線點(diǎn);若該區(qū)域內(nèi)有T1的脊線點(diǎn),則進(jìn)入步驟c),若沒有,則pi為失配點(diǎn);
c)按b)的方法對(duì)pi同一脊線上前后n個(gè)脊線點(diǎn)進(jìn)行類似的考察;
d)如果pi同一脊線上的前后n個(gè)脊線點(diǎn)在各自的搜索區(qū)域內(nèi)都有存儲(chǔ)模板T1的脊線點(diǎn), 而且這些脊線點(diǎn)均在T1的同一脊線上,則pi為匹配點(diǎn)并做記錄,否則pi為失配點(diǎn);
按照上述方法對(duì)重疊區(qū)域所有T2上的脊線點(diǎn)進(jìn)行考察,統(tǒng)計(jì)匹配點(diǎn)的個(gè)數(shù),記為S2。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于全局脊線的指紋識(shí)別方法,其特征在于:最終匹配分?jǐn)?shù)的
具體計(jì)算方法為:
a)計(jì)算相對(duì)匹配率ηr=S2/S1;
b)計(jì)算絕對(duì)匹配率ηa=S2/Sc,Sc是一個(gè)確定的常量;
c)計(jì)算最終匹配率ηf=ηr×ηa=S2 2/(S1×Sc);
S1是將待識(shí)別模板T2對(duì)齊到存儲(chǔ)模板T1之后,T2在重疊區(qū)域的脊線點(diǎn)個(gè)數(shù);S2是匹配 點(diǎn)的個(gè)數(shù);ηf是兩枚指紋的最終匹配分?jǐn)?shù)。
3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于全局脊線的指紋識(shí)別方法,其特征在于:在提取指紋細(xì) 節(jié)點(diǎn)之后,引入細(xì)化了的全局指紋脊線形成指紋模板。
技術(shù)領(lǐng)域:\n本發(fā)明屬于指紋識(shí)別方法,尤其涉及一種基于全局脊線的指紋識(shí)別方法。\n背景技術(shù):\n指紋比對(duì)是比較兩枚指紋以確定它們是否來(lái)源于同一個(gè)手指的過(guò)程。目前的指紋比對(duì)方 法有多種,最常見的是基于細(xì)節(jié)點(diǎn)的比對(duì)方法?;诩?xì)節(jié)點(diǎn)的比對(duì)方法,是提取指紋的細(xì)節(jié) 點(diǎn)特征(主要是脊線的端點(diǎn)和叉點(diǎn))來(lái)形成指紋模板,在此基礎(chǔ)上統(tǒng)計(jì)參與比對(duì)的兩個(gè)指紋 模板之間相同細(xì)節(jié)點(diǎn)的個(gè)數(shù),據(jù)此來(lái)判定兩枚指紋是否匹配。\n指紋比對(duì)必須要把兩枚指紋放到同一個(gè)系統(tǒng)中才能進(jìn)行,因此需要確定基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì),對(duì)齊 兩枚指紋圖像?;鶞?zhǔn)點(diǎn)對(duì)的搜索方法也有多種,常見的是通過(guò)比較兩枚指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)的類型、 方向、所在脊線的曲率,確定基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)。\n中國(guó)專利ZL88108482.4(授權(quán)公告號(hào)為CN1054225C)公開了一種自動(dòng)鑒別指紋的方法, 通過(guò)把指紋數(shù)據(jù)庫(kù)中每個(gè)指紋的細(xì)節(jié)與待鑒別指紋細(xì)節(jié)的預(yù)先計(jì)算的矢量圖象中選出的一 個(gè)相比較,以確定檔案指紋細(xì)節(jié)與預(yù)選的待查指紋細(xì)節(jié)圖象在位置和角度方面是否存在相互 之間的符合。上述鑒別指紋的方法也是基于細(xì)節(jié)點(diǎn)的比對(duì)方法的改進(jìn),細(xì)節(jié)點(diǎn)比對(duì)方法的優(yōu) 點(diǎn)在于指紋模板的數(shù)據(jù)量小,比對(duì)速度快,其缺點(diǎn)是:基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)的搜索效率低;容易受噪聲 的干擾和圖像處理的影響而丟失真實(shí)的細(xì)節(jié)點(diǎn),導(dǎo)致識(shí)別率較低;要求足夠數(shù)量細(xì)節(jié)點(diǎn)的支 持才能夠正確進(jìn)行比對(duì),導(dǎo)致其實(shí)際應(yīng)用范圍受限制。\n發(fā)明內(nèi)容:\n本發(fā)明的目的是提供一種基于全局脊線的指紋識(shí)別方法。本發(fā)明在提取指紋細(xì)節(jié)點(diǎn)之 后,引入細(xì)化了的全局指紋脊線形成指紋模板;然后考察細(xì)節(jié)點(diǎn)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)或周圍脊線分布 的相似性,確定基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì);通過(guò)基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)對(duì)齊兩枚指紋,計(jì)算兩枚指紋脊線的匹配度,從而 判定兩枚指紋是否匹配。\n本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案主要包含下列步驟:\n1、在存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板中進(jìn)行基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索,基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)是參與比對(duì)的存 儲(chǔ)指紋和待識(shí)別指紋進(jìn)行姿勢(shì)校準(zhǔn)的定位參考點(diǎn);\n2、進(jìn)行全局脊線匹配,即對(duì)存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板的脊線點(diǎn)進(jìn)行全局比對(duì), 脊線由脊線點(diǎn)構(gòu)成,在此基礎(chǔ)上判斷兩枚指紋是否匹配,具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程分四步如下:\n2.1指紋模板姿勢(shì)校準(zhǔn):以進(jìn)入全局匹配的基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)為對(duì)齊點(diǎn),計(jì)算平移量和旋轉(zhuǎn)量, 然后將待識(shí)別模板T2對(duì)齊到存儲(chǔ)模板T1中去;\n2.2統(tǒng)計(jì)重疊區(qū)域內(nèi)T2脊線點(diǎn)總數(shù)S1:將待識(shí)別模板T2對(duì)齊到存儲(chǔ)模板T1之后,T2和 T1形成一塊重疊區(qū)域,統(tǒng)計(jì)T2在重疊區(qū)域的脊線點(diǎn)個(gè)數(shù),記為S1;\n2.3脊線點(diǎn)比對(duì):對(duì)重疊區(qū)域所有T2上的脊線點(diǎn)進(jìn)行考察,統(tǒng)計(jì)匹配點(diǎn)的個(gè)數(shù),記為S2;\n2.4計(jì)算存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板的最終匹配分?jǐn)?shù),與判斷閾值T進(jìn)行比較,輸 出判斷結(jié)果;\n其中,上述的基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索方法如下:\na)建立指紋模板中每一個(gè)細(xì)節(jié)點(diǎn)與其他細(xì)節(jié)點(diǎn)之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),兩個(gè)細(xì)節(jié)點(diǎn)P1和P2 之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)需要計(jì)算如下3個(gè)特征量:細(xì)節(jié)點(diǎn)之間的距離d,細(xì)節(jié)點(diǎn)方向與兩 細(xì)節(jié)點(diǎn)連線順時(shí)針?biāo)傻膴A角α和β;\nb)用T1和T2分別代表存儲(chǔ)模板和待匹配模板,Pi為T1中的任一細(xì)節(jié)點(diǎn),Qi為T2中的 任一細(xì)節(jié)點(diǎn),按照如下步驟搜索基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì):\n1)如果Pi和Qi類型相同,即同為端點(diǎn)或叉點(diǎn),且方向的偏差小于閾值,那么就分 別以Pi和Qi為參考點(diǎn),考察它們之間的相似度;Pj是T1中Pi之外的任一細(xì)節(jié) 點(diǎn),Qj是T2中Qi之外的任一細(xì)節(jié)點(diǎn),Pj和Pi之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)記為A,Qj和Qi 之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)記為B,如果A和B之間的3個(gè)特征量的偏差都小于相應(yīng)的閾 值,那么就認(rèn)為A和B是一對(duì)相同的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),按照這個(gè)方法計(jì)算出Pi和Qi 所有相同拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的個(gè)數(shù),該個(gè)數(shù)就是Pi和Qi之間的相似度;\n2)按照1)中的方法,遍歷所有的細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì),把相似度不為0的點(diǎn)對(duì)保存到一個(gè)隊(duì) 列中。然后根據(jù)相似度的高低進(jìn)行降序排列;\n3)如果隊(duì)列不為空,那么選取隊(duì)列中前若干對(duì)基準(zhǔn)點(diǎn),進(jìn)入全局匹配;如果隊(duì)列 為空,則進(jìn)入步驟c);\nc)如果T1和T2中的細(xì)節(jié)點(diǎn)Pi、Qi類型相同,即同為端點(diǎn)或叉點(diǎn),且方向的偏差小于 閾值,那么就分別以Pi和Qi為中心,R為半徑,該范圍稱為參考范圍,考察它們之 間脊線分布的相似度:\n1)將Qi向Pi對(duì)準(zhǔn),包括位置和方向,Qi參考范圍內(nèi)所有的脊線點(diǎn)隨同Qi一起變 換,統(tǒng)計(jì)參考范圍內(nèi)T1和T2相同脊線點(diǎn)的個(gè)數(shù),該個(gè)數(shù)就是Pi和Qi之間的相 似度;\n2)遍歷所有的點(diǎn)對(duì),把相似度不為0的點(diǎn)對(duì)保存到一個(gè)隊(duì)列中,然后根據(jù)相似度 的高低進(jìn)行降序排列;\n3)選取隊(duì)列中前若干對(duì)基準(zhǔn)點(diǎn),進(jìn)入全局匹配;\n上述的脊線點(diǎn)比對(duì)具體方法為:\na)pi為待識(shí)別模板T2任意脊線上任意一點(diǎn);\nb)以pi為中心,m個(gè)象素點(diǎn)距離范圍作為搜索區(qū)域,在該區(qū)域內(nèi)搜索存儲(chǔ)模板T1的脊 線點(diǎn);若該區(qū)域內(nèi)有T1的脊線點(diǎn),則進(jìn)入步驟c),若沒有,則pi為失配點(diǎn);\nc)按b)的方法對(duì)pi同一脊線上前后n個(gè)脊線點(diǎn)進(jìn)行類似的考察;\nd)如果pi同一脊線上的前后n個(gè)脊線點(diǎn)在各自的搜索區(qū)域內(nèi)都有存儲(chǔ)模板T1的脊線點(diǎn), 而且這些脊線點(diǎn)均在T1的同一脊線上,則pi為匹配點(diǎn)并做記錄,否則pi為失配點(diǎn);\n按照上述方法對(duì)重疊區(qū)域所有T2上的脊線點(diǎn)進(jìn)行考察,統(tǒng)計(jì)匹配點(diǎn)的個(gè)數(shù),記為S2。\n本發(fā)明的有益效果是:由于運(yùn)用了全局脊線信息,使得采用本發(fā)明所述的方法不僅顯著 提高了搜索效率和抗噪聲能力,而且還克服了基于細(xì)節(jié)點(diǎn)的算法難以正確識(shí)別相同細(xì)節(jié)點(diǎn)過(guò) 少的兩枚指紋的問(wèn)題。\n附圖說(shuō)明:\n圖1是本發(fā)明的原理示意圖;\n圖2是本發(fā)明的細(xì)節(jié)點(diǎn)之間拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)示意圖;\n圖3是本發(fā)明的基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)隊(duì)列示意圖\n圖4是本發(fā)明的模板姿勢(shì)校準(zhǔn)示意圖;\n圖5是本發(fā)明的脊線點(diǎn)比對(duì)原理示意圖;\n具體實(shí)施方式:\n下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作一步說(shuō)明。本發(fā)明的這種基于全局脊線的指紋識(shí)別方 法,如圖1所示,主要包含下列步驟:\n1、在存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板中進(jìn)行基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索,基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)是參與比對(duì)的兩 枚指紋的定位參考點(diǎn)?;鶞?zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索是指紋比對(duì)過(guò)程中的一個(gè)重要步驟,基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)搜索的準(zhǔn) 確程度直接影響到整個(gè)指紋識(shí)別方法的性能高低。所述的基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)具體搜索方法如下,\na)建立指紋模板中每一個(gè)細(xì)節(jié)點(diǎn)與其他細(xì)節(jié)點(diǎn)之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。兩個(gè)細(xì)節(jié)點(diǎn)P1和P2 之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)需要計(jì)算如下3個(gè)特征量(參見附圖2):\n·細(xì)節(jié)點(diǎn)之間的距離d\n·細(xì)節(jié)點(diǎn)方向與兩細(xì)節(jié)點(diǎn)連線順時(shí)針?biāo)傻膴A角α和β\nb)用T1和T2分別代表存儲(chǔ)模板和待匹配模板,Pi為T1中的任一細(xì)節(jié)點(diǎn),Qi為T2中的 任一細(xì)節(jié)點(diǎn)。按照如下步驟搜索基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì):\n1)如果Pi和Qi類型相同(同為端點(diǎn)或叉點(diǎn))且方向的偏差小于閾值,那么就分別 以Pi和Qi為參考點(diǎn),考察它們之間的相似度。Pj是T1中Pi之外的任一細(xì)節(jié)點(diǎn), Qj是T2中Qi之外的任一細(xì)節(jié)點(diǎn),Pj和Pi之間的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)記為A,Qj和Qi之間的 拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)記為B,如果A和B之間的3個(gè)特征量的偏差都小于相應(yīng)的閾值,那么 就認(rèn)為A和B是一對(duì)相同的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。按照這個(gè)方法計(jì)算出Pi和Qi所有相同拓 撲結(jié)構(gòu)的個(gè)數(shù),該個(gè)數(shù)就是Pi和Qi之間的相似度。\n2)按照1)中的方法,遍歷所有的細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì),把相似度不為0的點(diǎn)對(duì)保存到一個(gè)隊(duì)列 中。然后根據(jù)相似度的高低進(jìn)行降序排列。\n3)如果隊(duì)列不為空,那么選取隊(duì)列中前若干對(duì)基準(zhǔn)點(diǎn),進(jìn)入全局匹配;如果隊(duì)列為 空,則進(jìn)入步驟c)。\nc)如果T1和T2中的細(xì)節(jié)點(diǎn)Pi、Qi類型相同(同為端點(diǎn)或又點(diǎn))且方向的偏差小于閾 值,那么就分別以Pi和Qi為中心,R為半徑(該范圍稱為參考范圍),考察它們之間 脊線分布的相似度。\n1)將Qi向Pi對(duì)準(zhǔn)(包括位置和方向),Qi參考范圍內(nèi)所有的脊線點(diǎn)隨同Qi一起變 換。統(tǒng)計(jì)參考范圍內(nèi)T1和T2相同脊線點(diǎn)的個(gè)數(shù),該個(gè)數(shù)就是Pi和Qi之間的相似 度。\n2)遍歷所有的點(diǎn)對(duì),把相似度不為0的點(diǎn)對(duì)保存到一個(gè)隊(duì)列中。然后根據(jù)相似度的 高低進(jìn)行降序排列。\n3)選取隊(duì)列中前若干對(duì)基準(zhǔn)點(diǎn),進(jìn)入全局匹配。\n2、進(jìn)行全局脊線匹配,即對(duì)存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板的脊線點(diǎn)進(jìn)行全局比對(duì), 脊線由脊線點(diǎn)構(gòu)成,在此基礎(chǔ)上判斷兩枚指紋是否匹配,具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程分四步如下:\n2.1指紋模板姿勢(shì)校準(zhǔn):全局脊線匹配必須要把存儲(chǔ)模板和待識(shí)別模板放到同一個(gè)系統(tǒng) 中才能進(jìn)行。本方法以進(jìn)入全局匹配的基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)為對(duì)齊點(diǎn),計(jì)算平移量和旋轉(zhuǎn)量,然后將待 識(shí)別模板T2對(duì)齊到存儲(chǔ)模板T1中去(參見附圖4)。\n2.2統(tǒng)計(jì)重疊區(qū)域內(nèi)T2脊線點(diǎn)總數(shù)S1:將待識(shí)別模板T2對(duì)齊到存儲(chǔ)模板T1之后,T2和 T1形成一塊重疊區(qū)域。統(tǒng)計(jì)T2在重疊區(qū)域的脊線點(diǎn)個(gè)數(shù),記為S1。\n2.3脊線點(diǎn)比對(duì):\n基于細(xì)節(jié)點(diǎn)的比對(duì)方法,通常是對(duì)模板之間的細(xì)節(jié)點(diǎn)進(jìn)行比對(duì),并以細(xì)節(jié)點(diǎn)的匹配情況 來(lái)判斷兩枚指紋是否匹配。本方法引入全局脊線信息,對(duì)模板的所有脊線點(diǎn)進(jìn)行考察比對(duì), 在此基礎(chǔ)上判斷指紋是否匹配;細(xì)節(jié)點(diǎn)在本方法中的作用只是作為基準(zhǔn)點(diǎn),用以對(duì)兩幅指紋 模板進(jìn)行姿勢(shì)校準(zhǔn)。脊線點(diǎn)比對(duì)的具體方法如下,如圖5所示:\ne)任取待識(shí)別模板T2任意脊線上任意一點(diǎn)pi;\nf)以pi為中心,1個(gè)脊線點(diǎn)(象素點(diǎn))距離范圍作為搜索區(qū)域,在該區(qū)域內(nèi)搜索存儲(chǔ)摸 板T1的脊線點(diǎn)。\n若該區(qū)域內(nèi)有T1的脊線點(diǎn),則進(jìn)入步驟c),\n若沒有,則pi為失配點(diǎn);\ng)按b)的方法對(duì)pi同一脊線上前后3個(gè)脊線點(diǎn)進(jìn)行類似的考察;\nh)如果pi同一脊線上的前后3個(gè)脊線點(diǎn)在各自的搜索區(qū)域內(nèi)都有存儲(chǔ)模板T1的脊線點(diǎn), 而且這些脊線點(diǎn)均在T1的同一脊線上,則pi為匹配點(diǎn)并做記錄,否則pi為失配點(diǎn)。\n按照上述方法對(duì)重疊區(qū)域所有T2上的脊線點(diǎn)進(jìn)行考察,統(tǒng)計(jì)匹配點(diǎn)的個(gè)數(shù),記為S2。\n2.4計(jì)算存儲(chǔ)指紋模板和待識(shí)別指紋模板的最終匹配分?jǐn)?shù):\na)計(jì)算相對(duì)匹配率ηr=S2/S1;\nb)計(jì)算絕對(duì)匹配率ηα=S2/Sc;(Sc是一個(gè)確定的常量);\nc)計(jì)算最終匹配率 \n相對(duì)匹配率ηr反映兩幅指紋模板之間的匹配程度,數(shù)值越大代表匹配程度越高。但不 能僅憑相對(duì)匹配率ηr來(lái)判斷指紋是否匹配,因?yàn)榇嬖谥铝星闆r:重疊區(qū)域很小,S1和S2 值很小,ηr值很大。在此情況下,根據(jù)ηr判定兩枚指紋匹配顯然不妥。因此設(shè)定絕對(duì)匹配 率ηα來(lái)抑制S2,其實(shí)質(zhì)是反映本算法必須要基于一定數(shù)量脊線點(diǎn)的支持,其中Sc是一個(gè)大 于1的常量。最終匹配率ηf就是兩枚指紋的最終匹配分?jǐn)?shù),與判斷閾值T進(jìn)行比較,輸出 判斷結(jié)果。
法律信息
- 2015-06-10
未繳年費(fèi)專利權(quán)終止
IPC(主分類): G06K 9/00
專利號(hào): ZL 200410017825.0
申請(qǐng)日: 2004.04.18
授權(quán)公告日: 2006.09.13
- 2006-09-13
- 2005-03-09
實(shí)質(zhì)審查的生效
實(shí)質(zhì)審查的生效
- 2005-01-12
引用專利(該專利引用了哪些專利)
序號(hào) | 公開(公告)號(hào) | 公開(公告)日 | 申請(qǐng)日 | 專利名稱 | 申請(qǐng)人 | 該專利沒有引用任何外部專利數(shù)據(jù)! |
被引用專利(該專利被哪些專利引用)
序號(hào) | 公開(公告)號(hào) | 公開(公告)日 | 申請(qǐng)日 | 專利名稱 | 申請(qǐng)人 | 1 | | 2008-05-12 | 2008-05-12 | | |