加載中...
首頁專利查詢專利詳情

*來源于國家知識產(chǎn)權(quán)局?jǐn)?shù)據(jù),僅供參考,實際以國家知識產(chǎn)權(quán)局展示為準(zhǔn)

使用實驗室校準(zhǔn)的測試設(shè)備和樣本數(shù)據(jù)分析多孔材料

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN201980006899.9
  • IPC分類號:G01N27/02;G01N27/04;G01N33/24;G01R17/10;G01R27/02;G01V3/06
  • 申請日期:
    2019-01-23
  • 申請人:
    丹尼斯·M·安德森
著錄項信息
專利名稱使用實驗室校準(zhǔn)的測試設(shè)備和樣本數(shù)據(jù)分析多孔材料
申請?zhí)?/td>CN201980006899.9申請日期2019-01-23
法律狀態(tài)暫無申報國家中國
公開/公告日2020-08-21公開/公告號CN111566477A
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號G01N27/02IPC分類號G;0;1;N;2;7;/;0;2;;;G;0;1;N;2;7;/;0;4;;;G;0;1;N;3;3;/;2;4;;;G;0;1;R;1;7;/;1;0;;;G;0;1;R;2;7;/;0;2;;;G;0;1;V;3;/;0;6查看分類表>
申請人丹尼斯·M·安德森申請人地址
美國內(nèi)華達州 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化,請及時變更,防止失效
權(quán)利人電子密度儀表有限責(zé)任公司當(dāng)前權(quán)利人電子密度儀表有限責(zé)任公司
發(fā)明人丹尼斯·M·安德森;斯蒂芬·R-K·菲林;威廉·埃尼;戴夫·B·斯特拉利
代理機構(gòu)北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司代理人丁文蘊;張會娟
摘要
用于測試?yán)缬迷诼坊蚪ㄖ鼗械亩嗫撞牧系臏y試設(shè)備可以部署在各種測試工地的現(xiàn)場。測試設(shè)備包括與被測多孔材料接觸的電極以及將電磁信號提供給多孔材料的傳感器單元。響應(yīng)信號反映可以等同于諸如密度和濕度的材料性質(zhì)的諸如復(fù)阻抗的電學(xué)參數(shù)??梢詤⒄赵谑褂孟嗤瑴y試設(shè)備的實驗室測試中做出的經(jīng)驗相關(guān)性來考慮測試設(shè)備對測量的影響。電極可包括在與多孔材料接觸時減小氣隙的柔性共面電極。

我瀏覽過的專利

專利服務(wù)由北京酷愛智慧知識產(chǎn)權(quán)代理公司提供