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測試裝置及測試方法

發(fā)明專利無效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN200810304206.8
  • IPC分類號：G01R27/02
  • 申請日期：
    2008-08-26
  • 申請人：
    鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
著錄項(xiàng)信息
專利名稱測試裝置及測試方法
申請?zhí)?/td>CN200810304206.8申請日期2008-08-26
法律狀態(tài)權(quán)利終止申報(bào)國家中國
公開/公告日2010-03-03公開/公告號CN101661060
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號G01R27/02IPC分類號G;0;1;R;2;7;/;0;2查看分類表>
申請人鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司申請人地址
廣東省深圳市寶安區(qū)龍華鎮(zhèn)油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路2號 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時(shí)變更，防止失效
權(quán)利人鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司,鴻海精密工業(yè)股份有限公司當(dāng)前權(quán)利人鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司,鴻海精密工業(yè)股份有限公司
發(fā)明人王仲培
代理機(jī)構(gòu)暫無代理人暫無
摘要
本發(fā)明提供一種測試裝置，用于測試元件的防電磁干擾涂層的電阻，所述測試裝置包括承載基板與電阻計(jì)，所述承載基板具有陽極測試接點(diǎn)、多個(gè)收容孔以及陰極測試接點(diǎn)，所述多個(gè)收容孔用于收容多個(gè)待測試元件，所述陰極測試接點(diǎn)與陽極測試接點(diǎn)相對，所述陽極測試接點(diǎn)、多個(gè)收容孔以及陰極測試接點(diǎn)之間通過導(dǎo)電介質(zhì)依次連接，所述電阻計(jì)與所述陽極測試接點(diǎn)和陰極測試接點(diǎn)電連接，用于獲得陽極測試接點(diǎn)與陰極測試接點(diǎn)之間的電阻。本發(fā)明還提供一種利用該測試裝置的測試方法。

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