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金屬柵MOS晶體管

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN201910808495.3
  • IPC分類號:H01L29/49;H01L29/78
  • 申請日期:
    2019-08-29
  • 申請人:
    上海華力集成電路制造有限公司
著錄項信息
專利名稱金屬柵MOS晶體管
申請?zhí)?/td>CN201910808495.3申請日期2019-08-29
法律狀態(tài)實質(zhì)審查申報國家中國
公開/公告日2019-11-12公開/公告號CN110444593A
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號H01L29/49
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IPC結(jié)構(gòu)圖譜:
IPC分類號H;0;1;L;2;9;/;4;9;;;H;0;1;L;2;9;/;7;8查看分類表>
申請人上海華力集成電路制造有限公司申請人地址
上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)康橋東路298號1幢1060室 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化,請及時變更,防止失效
權(quán)利人上海華力集成電路制造有限公司當(dāng)前權(quán)利人上海華力集成電路制造有限公司
發(fā)明人翁文寅
代理機構(gòu)上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司代理人郭四華
摘要
本發(fā)明公開了一種金屬柵MOS晶體管,包括:柵極結(jié)構(gòu)、溝道區(qū)、源區(qū)和漏區(qū)。柵極結(jié)構(gòu)包括柵介質(zhì)層和金屬柵;柵介質(zhì)層形成在半導(dǎo)體襯底表面,被柵極結(jié)構(gòu)所覆蓋的半導(dǎo)體襯底組成溝道區(qū);短溝道效應(yīng)抑制結(jié)構(gòu)設(shè)置在柵極結(jié)構(gòu)中同時避免在溝道區(qū)中設(shè)置短溝道效應(yīng)抑制結(jié)構(gòu);在柵介質(zhì)層和所述金屬柵之間設(shè)置有功函數(shù)層,短溝道效應(yīng)抑制結(jié)構(gòu)作為功函數(shù)層的一部分疊加在功函數(shù)層中,短溝道效應(yīng)抑制結(jié)構(gòu)使金屬柵MOS晶體管的閾值電壓增加且閾值電壓增加值用以抵消溝道區(qū)的長度縮短所造成的閾值電壓的減少量。本發(fā)明能抑制器件的短溝道效應(yīng),同時不會降低溝道載流子的遷移率,能提高器件的性能。

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