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改善氮化鎵基高電子遷移率晶體管柵極肖特基性能的結(jié)構(gòu)

發(fā)明專利無效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN200410101891.6
  • IPC分類號:H01L29/812;H01L21/338
  • 申請日期:
    2004-12-30
  • 申請人:
    中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所
著錄項信息
專利名稱改善氮化鎵基高電子遷移率晶體管柵極肖特基性能的結(jié)構(gòu)
申請?zhí)?/td>CN200410101891.6申請日期2004-12-30
法律狀態(tài)權(quán)利終止申報國家中國
公開/公告日2006-07-05公開/公告號CN1797787
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號H01L29/812
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IPC結(jié)構(gòu)圖譜:
IPC分類號H;0;1;L;2;9;/;8;1;2;;;H;0;1;L;2;1;/;3;3;8查看分類表>
申請人中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所申請人地址
北京市海淀區(qū)清華東路甲35號 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化,請及時變更,防止失效
權(quán)利人中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所當(dāng)前權(quán)利人中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所
發(fā)明人王曉亮;王翠梅;胡國新;王軍喜;李建平;曾一平;李晉閩
代理機構(gòu)中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司代理人湯保平
摘要
一種改善氮化鎵基高電子遷移率晶體管柵極肖特基性能的結(jié)構(gòu),包括:一藍(lán)寶石襯底或碳化硅襯底或硅襯底;一高阻氮化鎵緩沖層,該高阻氮化鎵緩沖層制作在襯底上;一薄層非故意摻雜鋁鎵氮插入層,該非故意摻雜鋁鎵氮插入層制作在高阻氮化鎵緩沖層上;一高遷移率氮化鎵溝道層,該高遷移率氮化鎵溝道層制作在非故意摻雜鋁鎵氮插入層上;一非故意摻雜鋁鎵氮空間隔離層,該非故意摻雜鋁鎵氮空間隔離層制作在高遷移率氮化鎵溝道層上;一n型摻雜鋁鎵氮載流子供給層,該n型摻雜鋁鎵氮載流子供給層制作在非故意摻雜鋁鎵氮空間隔離層上;一非故意摻雜鋁鎵氮蓋帽層,該非故意摻雜鋁鎵氮蓋帽層制作在n型摻雜鋁鎵氮載流子供給層上。

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