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半導(dǎo)體器件的制造方法

發(fā)明專利有效專利
  • 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>
    CN202110939157.0
  • IPC分類號(hào):H01L21/28;H01L49/02
  • 申請(qǐng)日期:
    2021-08-16
  • 申請(qǐng)人:
    武漢新芯集成電路制造有限公司
著錄項(xiàng)信息
專利名稱半導(dǎo)體器件的制造方法
申請(qǐng)?zhí)?/td>CN202110939157.0申請(qǐng)日期2021-08-16
法律狀態(tài)公開申報(bào)國家中國
公開/公告日2021-11-19公開/公告號(hào)CN113675077A
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號(hào)暫無
主分類號(hào)H01L21/28
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IPC結(jié)構(gòu)圖譜:
IPC分類號(hào)H;0;1;L;2;1;/;2;8;;;H;0;1;L;4;9;/;0;2查看分類表>
申請(qǐng)人武漢新芯集成電路制造有限公司申請(qǐng)人地址
湖北省武漢市東湖開發(fā)區(qū)高新四路18號(hào) 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化,請(qǐng)及時(shí)變更,防止失效
權(quán)利人武漢新芯集成電路制造有限公司當(dāng)前權(quán)利人武漢新芯集成電路制造有限公司
發(fā)明人耿武千;曹開瑋;王同信;薛廣杰
代理機(jī)構(gòu)上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)代理人田婷
摘要
本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體器件的制造方法,包括:提供一襯底,包括第一圖形區(qū)和第二圖形區(qū),所述襯底上覆蓋有膜層結(jié)構(gòu),且所述第二圖形區(qū)上的膜層結(jié)構(gòu)中形成有凹陷,所述凹陷的深度超出預(yù)設(shè)規(guī)格;形成阻擋層覆蓋所述凹陷,所述阻擋層的頂表面低于所述凹陷以外的膜層結(jié)構(gòu)的頂表面;以及,采用化學(xué)機(jī)械研磨工藝研磨所述凹陷以外的膜層結(jié)構(gòu)和所述凹陷表面的阻擋層,且對(duì)所述膜層結(jié)構(gòu)的研磨速率大于對(duì)所述阻擋層的研磨速率,以使得研磨后的所述第一圖形區(qū)和所述第二圖形區(qū)上的膜層結(jié)構(gòu)表面的高度差在預(yù)設(shè)規(guī)格內(nèi)。本發(fā)明能夠提高化學(xué)機(jī)械研磨工藝后的不同密度圖形表面的平整性,進(jìn)而提高半導(dǎo)體器件的性能。

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