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測試裝置、配置方法、及設(shè)備接口

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN200580032997.8
  • IPC分類號：G01R31/28
  • 申請日期：
    2005-08-15
  • 申請人：
    愛德萬測試株式會社
著錄項信息
專利名稱測試裝置、配置方法、及設(shè)備接口
申請?zhí)?/td>CN200580032997.8申請日期2005-08-15
法律狀態(tài)授權(quán)申報國家中國
公開/公告日2007-09-05公開/公告號CN101031807
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號G01R31/28IPC分類號G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分類表>
申請人愛德萬測試株式會社申請人地址
日本東京 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時變更，防止失效
權(quán)利人愛德萬測試株式會社當(dāng)前權(quán)利人愛德萬測試株式會社
發(fā)明人鷲津信栄;渋谷敦章
代理機構(gòu)北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司代理人壽寧
摘要
本發(fā)明是關(guān)于一種測試裝置，其包括：總線開關(guān)部，可以對將所輸入的信號應(yīng)從哪一個輸出端輸出來進行切換；控制部，將與測試程序相對應(yīng)的多個控制信號輸入到總線開關(guān)部，且對將各控制信號應(yīng)從哪一個輸出端輸出來進行控制；多個插槽，根據(jù)控制信號而生成向電子設(shè)備輸入的信號，且設(shè)置著接收電子設(shè)備所輸出的輸出信號的測試模塊；以及設(shè)備接口，可以對將多個插槽應(yīng)與哪一個連接器連接來進行切換，且上述測試裝置通過各連接器，將從設(shè)置著診斷用測試模塊的插槽所接收的診斷用信號依次供給到各測試模塊，檢測出通過各連接器的診斷用信號被供給到哪一個測試模塊，且檢測各輸出端與哪一個連接器連接。

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