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光學(xué)流速顆粒物濃度測量方法及裝置

發(fā)明專利無效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN200610097516.8
  • IPC分類號：G01N15/06;G01N21/00
  • 申請日期：
    2006-11-03
  • 申請人：
    劉文清;張玉鈞;陸亦懷;劉建國;曾宗泳;劉和來;江宇;詹鍇;方武
著錄項(xiàng)信息
專利名稱光學(xué)流速顆粒物濃度測量方法及裝置
申請?zhí)?/td>CN200610097516.8申請日期2006-11-03
法律狀態(tài)撤回申報(bào)國家中國
公開/公告日2007-05-09公開/公告號CN1959373
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號G01N15/06IPC分類號G;0;1;N;1;5;/;0;6;;;G;0;1;N;2;1;/;0;0查看分類表>
申請人劉文清;張玉鈞;陸亦懷;劉建國;曾宗泳;劉和來;江宇;詹鍇;方武申請人地址
安徽省合肥市蜀山湖路350號 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時(shí)變更，防止失效
權(quán)利人劉文清,張玉鈞,陸亦懷,劉建國,曾宗泳,劉和來,江宇,詹鍇,方武當(dāng)前權(quán)利人劉文清,張玉鈞,陸亦懷,劉建國,曾宗泳,劉和來,江宇,詹鍇,方武
發(fā)明人劉文清;張玉鈞;陸亦懷;劉建國;曾宗泳;劉和來;江宇;詹鍇;方武
代理機(jī)構(gòu)合肥華信專利商標(biāo)事務(wù)所代理人余成俊
摘要
本發(fā)明公開了一種光學(xué)流速顆粒物濃度測量方法與裝置，包括有發(fā)光二極管和調(diào)制電路，發(fā)光二極管的前方安裝有二個(gè)光電二極管探測器，光電二極管探測器將信號分別經(jīng)過放大、檢波電路后，接入低頻帶通濾波器a、b，低頻帶通濾波器a、b輸出的信號分別經(jīng)過A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換接入計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。由計(jì)算機(jī)采樣、處理，計(jì)算兩路信號的互相關(guān)，最后由最大互相關(guān)的時(shí)間延遲計(jì)算出流速；同時(shí)，信號經(jīng)低頻帶通濾波器a和A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換后，計(jì)算顆粒物濃度。將煙氣流流速和顆粒物濃度測量結(jié)合在一起，簡化了儀器結(jié)構(gòu)，降低了成本，同時(shí)能提供顆粒物排放的必須數(shù)據(jù)，因而更具實(shí)用性和使用價(jià)值。

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