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一種判斷封裝膠量的方法

發(fā)明專利無效專利

申請?zhí)枺?/span>
CN201110421959.9
IPC分類號：H01L33/00;H01L33/52
申請日期：
2011-12-16
申請人：
揚州峻茂光電有限公司

基礎(chǔ)信息

權(quán)利要求

說明書

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法律信息

引證文獻(xiàn)

著錄項信息

專利名稱	一種判斷封裝膠量的方法
申請?zhí)?/td>	CN201110421959.9	申請日期	2011-12-16
法律狀態(tài)	撤回	申報國家	中國
公開/公告日	2012-05-02	公開/公告號	CN102437259A
優(yōu)先權(quán)	暫無	優(yōu)先權(quán)號	暫無
主分類號	H01L33/00 ? IPC結(jié)構(gòu)圖譜： H 電學(xué) H9 電學(xué) H01 基本電氣元件 H01L 半導(dǎo)體器件；其他類目中不包括的電固體器件（使用半導(dǎo)體器件的測量入G01；一般電阻器入H01C；磁體、電感器、變壓器入H01F；一般電容器入H01G；電解型器件入H01G 9/00；電池組、蓄電池入H01M；波導(dǎo)管、諧振器或波導(dǎo)型線路入H01P；線路連接器、匯流器入H01R；受激發(fā)射器件入H01S；機(jī)電諧振器入H03H；揚聲器、送話器、留聲機(jī)拾音器或類似的聲機(jī)電傳感器入H04R；一般電光源入H05B；印刷電路、混合電路、電設(shè)備的外殼或結(jié)構(gòu)零部件、電氣元件的組件的制造入H05K；在具有特殊應(yīng)用的電路中半導(dǎo)體器件的使用見該應(yīng)用的小類）〔2〕 H01L33/00 至少有一個電位躍變勢壘或表面勢壘的專門適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件；專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備；這些半導(dǎo)體器件的零部件（H01L 51/00優(yōu)先；由在一個公共襯底中或其上形成有多個半導(dǎo)體組件并包括具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘，專門適用于光發(fā)射的器件入H01L 27/15；半導(dǎo)體激光器入H01S 5/00）〔2，8，2010.01〕	IPC分類號	H;0;1;L;3;3;/;0;0;;;H;0;1;L;3;3;/;5;2查看分類表>
申請人	揚州峻茂光電有限公司	申請人地址	江蘇省揚州市揚子江南路9號出口加工區(qū)內(nèi)3號廠房變更專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時變更，防止失效
權(quán)利人	揚州峻茂光電有限公司	當(dāng)前權(quán)利人	揚州峻茂光電有限公司
發(fā)明人	范姜士衡
代理機(jī)構(gòu)	南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司	代理人	任利國

摘要

本發(fā)明涉及一種判斷封裝膠量的方法，包含以下步驟：準(zhǔn)備一可射出環(huán)形光線的固定光源；將該環(huán)形光線投射在一預(yù)設(shè)電子組件之封裝膠的頂面而反射出一光圈；記錄該預(yù)設(shè)電子組件的膠量為正常時的光圈大??；將該環(huán)形光線投射在一待檢電子組件之封裝膠的頂面而反射出一光圈；判斷該待檢電子組件所反射出的光圈大小與所述正常膠量的光圈大小之間的差異，若相同即代表該待檢電子組件的膠量正常，若小于即代表該待檢電子組件的膠量過多，若大于即代表該待檢電子組件的膠量過少。

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