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一種特性阻抗校準系統(tǒng)及測試方法

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN201510390997.0
  • IPC分類號：G01R27/02
  • 申請日期：
    2015-07-06
  • 申請人：
    上海斐訊數(shù)據(jù)通信技術(shù)有限公司
著錄項信息
專利名稱一種特性阻抗校準系統(tǒng)及測試方法
申請?zhí)?/td>CN201510390997.0申請日期2015-07-06
法律狀態(tài)暫無申報國家中國
公開/公告日2015-10-21公開/公告號CN104991124A
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號G01R27/02IPC分類號G;0;1;R;2;7;/;0;2查看分類表>
申請人上海斐訊數(shù)據(jù)通信技術(shù)有限公司申請人地址
江蘇省常州市天寧區(qū)青洋北路1號23幢乙單元201室 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時變更，防止失效
權(quán)利人常州市優(yōu)高電子科技有限公司當前權(quán)利人常州市優(yōu)高電子科技有限公司
發(fā)明人趙海蘭
代理機構(gòu)上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙）代理人郭桂峰
摘要
本發(fā)明提供一種匹配阻抗校準系統(tǒng)，包括測試夾具、射頻信號源以及分析處理單元；測試夾具包括一匹配調(diào)試電路；匹配調(diào)試電路包括一與射頻頭連接的輸入端口Port?A和一與分析處理單元連接的輸出端口Port?B；輸入端口Port?A與輸出端口Port?B之間形成第一π型電路，用于對射頻頭的負載端的阻抗進行調(diào)諧以使得射頻頭的負載端的阻抗與設(shè)定阻抗值相匹配；匹配調(diào)試電路還包括輸入端口Port?C，輸入端口Port?C通過待測射頻線與射頻信號源相連；輸出端口Port?B與輸入端口Port?C之間形成第二π型電路，用于對待測射頻線的阻抗進行調(diào)諧以使得射頻線的阻抗與設(shè)定阻抗值相匹配。

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