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一種OLT測(cè)試的方法及裝置

發(fā)明專利無效專利
  • 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>
    CN201210168978.X
  • IPC分類號(hào):H04Q11/00;H04B10/075
  • 申請(qǐng)日期:
    2012-05-28
  • 申請(qǐng)人:
    華為技術(shù)有限公司
著錄項(xiàng)信息
專利名稱一種OLT測(cè)試的方法及裝置
申請(qǐng)?zhí)?/td>CN201210168978.X申請(qǐng)日期2012-05-28
法律狀態(tài)權(quán)利終止申報(bào)國(guó)家暫無
公開/公告日2012-10-03公開/公告號(hào)CN102710998A
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號(hào)暫無
主分類號(hào)H04Q11/00IPC分類號(hào)H;0;4;Q;1;1;/;0;0;;;H;0;4;B;1;0;/;0;7;5查看分類表>
申請(qǐng)人華為技術(shù)有限公司申請(qǐng)人地址
廣東省深圳市龍崗區(qū)坂田華為總部辦公樓 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化,請(qǐng)及時(shí)變更,防止失效
權(quán)利人華為技術(shù)有限公司當(dāng)前權(quán)利人華為技術(shù)有限公司
發(fā)明人吳廣東;聶世瑋
代理機(jī)構(gòu)深圳市深佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)代理人唐華明
摘要
本發(fā)明提供一種OLT測(cè)試的方法及裝置,所述方法包括下行GTC層接收GEM層發(fā)送的GEM報(bào)文,并按預(yù)設(shè)的GTC幀頭格式將所述GEM報(bào)文封裝為GTC幀數(shù)據(jù);所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層,以使所述上行GTC層按照所述預(yù)設(shè)的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù),并將解析獲得的所述GEM報(bào)文發(fā)送至所述GEM層。本發(fā)明實(shí)施例從匹配上下行幀結(jié)構(gòu)格式以及匹配上下行數(shù)據(jù)速率兩方面出發(fā),實(shí)現(xiàn)OLT的環(huán)回測(cè)試過程,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)OLT功能是否正常的目的。

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