專利名稱 | 低剖面二維寬角掃描圓極化相控陣天線 | ||
申請?zhí)?/td> | CN202010129821.0 | 申請日期 | 2020-02-28 |
法律狀態(tài) | 實質審查 | 申報國家 | 中國 |
公開/公告日 | 2020-06-23 | 公開/公告號 | CN111326852A |
優(yōu)先權 | 暫無 | 優(yōu)先權號 | 暫無 |
主分類號 | H01Q1/36 | IPC分類號 | H;0;1;Q;1;/;3;6;;;H;0;1;Q;1;/;3;8;;;H;0;1;Q;1;/;4;8;;;H;0;1;Q;1;/;5;0;;;H;0;1;Q;2;1;/;2;4查看分類表> |
申請人 | 西南電子技術研究所(中國電子科技集團公司第十研究所) | 申請人地址 | 四川省成都市金牛區(qū)茶店子東街48號
變更
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權利人 | 西南電子技術研究所(中國電子科技集團公司第十研究所) | 當前權利人 | 西南電子技術研究所(中國電子科技集團公司第十研究所) |
發(fā)明人 | 楊國慶;杏晨;羅鑫;何慶強;陳軍全 | ||
代理機構 | 成飛(集團)公司專利中心 | 代理人 | 郭純武 |
序號 | 公開(公告)號 | 公開(公告)日 | 申請日 | 專利名稱 | 申請人 |
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該專利沒有引用任何外部專利數(shù)據(jù)! |
序號 | 公開(公告)號 | 公開(公告)日 | 申請日 | 專利名稱 | 申請人 |
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該專利沒有被任何外部專利所引用! |
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