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用于分析塑料的X射線分析儀

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN200410085519.0
  • IPC分類號：G01N23/223
  • 申請日期：
    2004-09-03
  • 申請人：
    精工電子納米科技有限公司
著錄項信息
專利名稱用于分析塑料的X射線分析儀
申請?zhí)?/td>CN200410085519.0申請日期2004-09-03
法律狀態(tài)暫無申報國家中國
公開/公告日2005-06-08公開/公告號CN1624463
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號G01N23/223IPC分類號G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分類表>
申請人精工電子納米科技有限公司申請人地址
日本東京都 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時變更，防止失效
權(quán)利人日本株式會社日立高新技術(shù)科學(xué)當(dāng)前權(quán)利人日本株式會社日立高新技術(shù)科學(xué)
發(fā)明人長谷川清
代理機構(gòu)中國專利代理（香港）有限公司代理人張雪梅;葉愷東
摘要
本發(fā)明的目的在于當(dāng)分析塑料中的金屬濃度時，減少塑料中氯的影響。在X射線分析儀中，包括X射線產(chǎn)生部件，用于將初級X射線照射到樣品上，以及X射線探測器，用于檢測來自樣品的X射線，來自X射線產(chǎn)生部件的初級X射線照射到塑料樣品上，由X射線探測器獲得來自塑料樣品的氯的X射線強度，并且初級X射線被塑料樣品散射的散射X射線強度也由X射線探測器獲取。提供氯的X射線強度比計算裝置，用于將氯的X射線強度除以散射的X射線強度以計算氯的X射線強度比。計算出的氯的X射線強度比和塑料樣品中氯的濃度正相關(guān)。提供相對氯濃度計算裝置，用于從氯的X射線強度比中計算塑料樣品中的相對氯濃度。

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