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*來源于國家知識產(chǎn)權(quán)局數(shù)據(jù)，僅供參考，實際以國家知識產(chǎn)權(quán)局展示為準

一種集成電路性能測量及電路實驗裝置

實用新型專利無效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN02280449.8
  • IPC分類號：--
  • 申請日期：
    2002-10-11
  • 申請人：
    中國科學院海洋研究所
著錄項信息
專利名稱一種集成電路性能測量及電路實驗裝置
申請?zhí)?/td>CN02280449.8申請日期2002-10-11
法律狀態(tài)權(quán)利終止申報國家中國
公開/公告日公開/公告號
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號暫無IPC分類號暫無查看分類表>
申請人中國科學院海洋研究所申請人地址
山東省青島市南海路7號 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時變更，防止失效
權(quán)利人中國科學院海洋研究所當前權(quán)利人中國科學院海洋研究所
發(fā)明人龔德俊;朱素蘭;李思忍;徐永平;于新生;秦楓
代理機構(gòu)沈陽科苑專利商標代理有限公司代理人許宗富;周秀梅
摘要
本實用新型涉及集成電路性能測量、試驗技術(shù)，尤其是一種集成電路性能測量及電路實驗裝置。包括：基板，其上設(shè)有多個固定孔，上表面均設(shè)至少2個固定導(dǎo)槽；至少1塊用于接插集成塊和電子元件的母板，其上設(shè)有印刷線路用即導(dǎo)體；至少2個用于固定母板的固定塊，插裝在所述固定導(dǎo)槽里、并同時將母板安裝在基板上、于固定導(dǎo)槽之間；至少1個固定條，通過固定孔安裝在基板上，用于固定整體結(jié)構(gòu)。在基板上靈活方便地組合母板，使用本實用新型能安全、方便、快速地用集成塊和電子元件搭建測量和實驗電路，以對各種型號和形狀的(尤其貼片式)集成電路進行各種性能的測量和試驗。

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