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微陣列的檢測方法

發(fā)明專利有效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN201080059469.2
  • IPC分類號：C12Q1/68;C12N15/09;G01N33/53;G01N37/00
  • 申請日期：
    2010-12-13
  • 申請人：
    東洋鋼鈑株式會社
著錄項信息
專利名稱微陣列的檢測方法
申請?zhí)?/td>CN201080059469.2申請日期2010-12-13
法律狀態(tài)授權申報國家中國
公開/公告日2012-09-19公開/公告號CN102686746A
優(yōu)先權暫無優(yōu)先權號暫無
主分類號C12Q1/68IPC分類號C;1;2;Q;1;/;6;8;;;C;1;2;N;1;5;/;0;9;;;G;0;1;N;3;3;/;5;3;;;G;0;1;N;3;7;/;0;0查看分類表>
申請人東洋鋼鈑株式會社申請人地址
日本東京都 變更 專利地址、主體等相關變化，請及時變更，防止失效
權利人東洋鋼鈑株式會社當前權利人東洋鋼鈑株式會社
發(fā)明人山野博文;平山幸一;伊藤茜
代理機構北京安信方達知識產權代理有限公司代理人申基成;鄭霞
摘要
本發(fā)明的目的在于提供一種客觀地判定每個微陣列的性能退化或清洗不充分等以及雜交失敗的方法，具體而言，涉及一種使用微陣列檢測探針多核苷酸和靶多核苷酸的雜交的方法，包含1)使具有分別添加多種探針多核苷酸的多個固定的檢測用點、及一處以上的固定有兩種以上固定于檢測用點上的探針多核苷酸的基準點的微陣列與熒光標記的靶多核苷酸接觸的工序，2)通過清洗微陣列除去未反應的靶多核苷酸的工序，3)測定基準點上的熒光，若滿足規(guī)定值則判斷為可測定的工序，及4)若判斷為可測定，則測定固定有探針多核苷酸的各檢測用點上的熒光的工序。

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