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一種Mura缺陷圖像數(shù)據(jù)集的生成方法和生成裝置

發(fā)明專利有效專利
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    CN202211256617.0
  • IPC分類號:G06V10/774;G06V10/766;G06V10/80;G06V10/82;G06V10/40;G06N3/04;G06N3/08
  • 申請日期:
    2022-10-14
  • 申請人:
    深圳精智達技術股份有限公司
著錄項信息
專利名稱一種Mura缺陷圖像數(shù)據(jù)集的生成方法和生成裝置
申請?zhí)?/td>CN202211256617.0申請日期2022-10-14
法律狀態(tài)公開申報國家中國
公開/公告日2022-11-15公開/公告號CN115346091A
優(yōu)先權暫無優(yōu)先權號暫無
主分類號G06V10/774IPC分類號G;0;6;V;1;0;/;7;7;4;;;G;0;6;V;1;0;/;7;6;6;;;G;0;6;V;1;0;/;8;0;;;G;0;6;V;1;0;/;8;2;;;G;0;6;V;1;0;/;4;0;;;G;0;6;N;3;/;0;4;;;G;0;6;N;3;/;0;8查看分類表>
申請人深圳精智達技術股份有限公司申請人地址
廣東省深圳市龍華街道清湖社區(qū)清湖村富安娜公司1號101工業(yè)園D棟1樓東 變更 專利地址、主體等相關變化,請及時變更,防止失效
權利人深圳精智達技術股份有限公司當前權利人深圳精智達技術股份有限公司
發(fā)明人樂康;張耀;曹保桂
代理機構深圳騰文知識產權代理有限公司代理人楊彩蘭
摘要
本申請實施例公開了一種Mura缺陷圖像數(shù)據(jù)集的生成方法,用于無需輸入,就可生成大量與真實缺陷圖像差距小的生成缺陷圖像。本申請實施例方法包括獲取訓練樣本集,所述訓練樣本集為存在多張相同mura缺陷類型的訓練樣本圖像;建立mura缺陷生成模型,所述mura缺陷生成模型包含特征提取部分、圖像重構部分、多個Norm_conv_down模塊和Norm_conv_up模塊;從所述訓練樣本集中依次選取訓練樣本輸入mura缺陷生成模型進行訓練,確定訓練好的mura缺陷生成模型為目標生成模型;通過所述目標生成模型輸出與所述訓練樣本mura缺陷類型相同的圖像,以生成mura缺陷圖像數(shù)據(jù)集。

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