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折射計和用于定性及定量測量的方法

發(fā)明專利無效專利
  • 申請?zhí)枺?/span>
    CN99803956.X
  • IPC分類號：G01N21/43;G01N33/543
  • 申請日期：
    1999-11-12
  • 申請人：
    萊卡微系統(tǒng)公司
著錄項信息
專利名稱折射計和用于定性及定量測量的方法
申請?zhí)?/td>CN99803956.X申請日期1999-11-12
法律狀態(tài)權(quán)利終止申報國家暫無
公開/公告日2001-05-02公開/公告號CN1293757
優(yōu)先權(quán)暫無優(yōu)先權(quán)號暫無
主分類號G01N21/43IPC分類號G;0;1;N;2;1;/;4;3;;;G;0;1;N;3;3;/;5;4;3查看分類表>
申請人萊卡微系統(tǒng)公司申請人地址
美國紐約州 變更 專利地址、主體等相關(guān)變化，請及時變更，防止失效
權(quán)利人李克特有限公司當(dāng)前權(quán)利人李克特有限公司
發(fā)明人T·E·賴安;M·J·拜尼
代理機構(gòu)中國專利代理（香港）有限公司代理人盧新華;楊麗琴
摘要
公開了一種傳感器設(shè)備和相關(guān)的方法，用于檢測和監(jiān)視分析物和固定的粘合層的特定粘合。該設(shè)備最好包括自動臨界角折射率計(22)，它具有線性掃描陣列和用于照射一部分線性掃描陣列的光學(xué)系統(tǒng)，這種照射取決于淀積在透光元件上的粘合層的折射率。該設(shè)備進一步包括流動室(28)，用于使分析物和粘合層(51)接觸。本發(fā)明的優(yōu)選檢測方法一般來說包括：提供臨界角折射計以產(chǎn)生擊中固定的粘合層的光，使粘合層與接觸相(59)接觸，測量全反射的臨界角，這個測量值表示在分析物和粘合層之間的相互作用是否存在。

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